SEM(Scanning Electron Microscope)

Untuk mengkaji struktur morfologi permukaan dan cross section suatu bahan.

Cara menggunakan Scanning Electron Microscope (SEM) dimulai dengan menyiapkan sampel yang telah dikeringkan dan dilapisi konduktor jika diperlukan. Sampel kemudian ditempatkan di dalam ruang vakum SEM, lalu alat dinyalakan dan parameter seperti tegangan percepatan dan resolusi diatur sesuai kebutuhan. Setelah itu, berkas elektron difokuskan pada sampel untuk menghasilkan citra dengan perbesaran tinggi. Gambar yang dihasilkan ditampilkan pada monitor dan dapat disimpan untuk analisis lebih lanjut. Setelah selesai, SEM dimatikan secara bertahap, dan sampel dikeluarkan dengan hati-hati.